Poznanie zasad współdziałania dwóch części systemu, metrologicznej i diagnostycznej oraz czynników powodujących błędy kwalifikacji wyrobów lub procesów ich wytwarzania. Określenie rodzajów błędów pomiarów oraz sytuacji w których mają wpływ na prawdopodobieństwo powstawania błędów kwalifikacji. Dodatkowym celem jest poznanie zasad normalizacji oraz jej roli w systemach zarządzania przemysłowymi systemami pomiarowo diagnostycznycznymi
- Prowadzący: Roman Tabisz