- Nauczyciel: Jakub Wojturski
- Nauczyciel: Piotr Ptak
- Nauczyciel: Jakub Wojturski
- Nauczyciel: Katarzyna Cieśla
- Nauczyciel: Łukasz Ciura
- Nauczyciel: Grzegorz Hałdaś
- Nauczyciel: Andrzej Kolek
Poznanie zasad współdziałania dwóch części systemu, metrologicznej i diagnostycznej oraz czynników powodujących błędy kwalifikacji wyrobów lub procesów ich wytwarzania. Określenie rodzajów błędów pomiarów oraz sytuacji w których mają wpływ na prawdopodobieństwo powstawania błędów kwalifikacji. Dodatkowym celem jest poznanie zasad normalizacji oraz jej roli w systemach zarządzania przemysłowymi systemami pomiarowo diagnostycznycznymi

- Nauczyciel: Roman Tabisz